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致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)

主要特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 1024個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
• 32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
• 512 DUTS 平行測試功能
• 96個(gè)電源通道
• 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項(xiàng)
• 好學(xué)易用的 WINDOWS 7作業(yè)環(huán)境
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• 每片 HDADDA 混合訊號單板可支援32通道
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
• 即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
• 測試程式/測試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750-EX)
• 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
• 蕞經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的SoC和消費(fèi)性混合信號晶片產(chǎn)品測試方案

平行測試功能

Chroma 3650-EX可在一個(gè)測試頭中，提供多 1024個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功 能，蕞高可同時(shí)測試512 個(gè)待測晶片，以提升 量產(chǎn)效能。在Chroma 3650-EX中，每片單一的 HDLPC板擁有128個(gè)數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效 能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4個(gè)數(shù)位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以 內(nèi)的精準(zhǔn)度。

彈性化架構(gòu)

雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時(shí)間需求的設(shè)備之 上。Chroma 3650-EX在設(shè)計(jì)其架構(gòu)時(shí)，應(yīng)用* 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類比測試模組等等選配，以確保 符合未來多年的測試需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組，可實(shí)現(xiàn)從 設(shè)計(jì)端至量產(chǎn)端使用同一PXI平臺已減少因硬體 不同所造成的測試誤差。

CRISP (軟體測試環(huán)境)

架構(gòu)在Windows 7作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-EX 的軟體測試環(huán)境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個(gè)結(jié)合工程開發(fā)與量 產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控 制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測 試機(jī)臺管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的 設(shè)計(jì)，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯(cuò)工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測試 參數(shù)，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計(jì) 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生產(chǎn) 人員可輕易地控制每個(gè)測試階段。它提供產(chǎn)品導(dǎo) 向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650-EX、 晶圓針測機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計(jì)者可 先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI的 各項(xiàng)參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操作員所 需進(jìn)行的工作，只是選擇程式設(shè)計(jì)者已規(guī)劃好的 流程，即可開始量產(chǎn)，大幅降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí) 的時(shí)間。

蕞低價(jià)位的測試解決方案

要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功 能強(qiáng)大而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成 本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時(shí) 間和整體成本來達(dá)成，而非只是簡單地減少測 試系統(tǒng)的價(jià)格而已。Chroma 3650-EX的設(shè)計(jì)即 是可適用于所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗(yàn) 證、晶圓測試和成品測試。周邊設(shè)備。Chroma 3650-EX支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面(TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī)，包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等 等裝置之間的溝通。

應(yīng)用支援

不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計(jì)皆能精準(zhǔn)地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場的機(jī)會、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng)新 策略降低測試成本、或在尖峰負(fù)載情況下增加容 量，Chroma 位于的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時(shí)解有效率的解決方案。

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致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)