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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心萬(wàn)用表&功率計(jì)&測(cè)溫儀5.泰克2657A泰克2657A大功率系統(tǒng)數(shù)字源表

泰克2657A大功率系統(tǒng)數(shù)字源表

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

泰克2657A大功率系統(tǒng)數(shù)字源表
Keithley 2650 系列高功率 SourceMeter® SMU 儀器
2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產(chǎn)品和功率半導(dǎo)體元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽(yáng)能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測(cè)試而設(shè)計(jì)。 它們提供*的功率

產(chǎn)品型號(hào):2657A
更新時(shí)間:2023-07-21
廠商性質(zhì):代理商
訪問(wèn)量:880
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品牌泰克產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域電子

泰克2657A大功率系統(tǒng)數(shù)字源表

2657A是一種高電壓、高功率、低電流源測(cè)量單元(SMU),具有迄今為止zui高的功率、 精度、速度、靈活性和易用性,能夠大大提高研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試和可靠性環(huán)境的測(cè)試效 率。2657A是專門針對(duì)高壓電子和功率半導(dǎo)體器件的特征分析與測(cè)試而設(shè)計(jì)的,例如 二極管、FET和IGBT,以及其它一些需要高電壓、快速響應(yīng)和精確測(cè)量電壓和電流的元 件和材料。2657A是吉時(shí)利功率半導(dǎo)體特征分析和測(cè)試解決方案的2600A系列產(chǎn)品,具 有業(yè)界zui高的功率和*的低電流性能。這些用戶可配置的解決方案采用了業(yè)界zui強(qiáng)大的參數(shù)式特征分析軟件平臺(tái),能夠隨著用戶應(yīng)用的發(fā)展進(jìn)行升級(jí)。

2657A與其它2600A系列數(shù)字源表一樣,具有高度靈活的四象限電壓和電流源/負(fù)載, 并配置了精密電壓和電流計(jì)。它可以用作:

• 半導(dǎo)體特征分析儀
• 電壓或電流波形發(fā)生器
• 電壓或電流脈沖發(fā)生器
• 支持電壓和電流讀回的精密電源
• 真電流源
• 數(shù)字萬(wàn)用表(DCV、DCI、歐姆 和六位半分辨率電源)
• 精密電子負(fù)載

2657A能夠提供或吸收高達(dá)3000V@20mA或1500V@120mA的電源

主要特性:

• 提供或吸收高達(dá)180W的直流或脈沖電 源(±3000V@20mA,±1500V@120mA)
• 1fA低電流分辨率
• 用于高精度和高速瞬態(tài)捕獲的雙22位 精度ADC和每點(diǎn)雙18位1μs數(shù)字轉(zhuǎn)換器
• 易于與其它2600A數(shù)字源表進(jìn)行系統(tǒng)集 成的全TSP®兼容能力
• 單臺(tái)儀器內(nèi)集成了精密電源、電流 源、DMM、任意波形發(fā)生器、電壓或電 流脈沖發(fā)生器、電子18位負(fù)載和觸發(fā) 控制器

• 內(nèi)含TSP® Express特征分析軟 件、LabVIEW ®驅(qū)動(dòng)和吉時(shí)利的Test Script Builder軟件開發(fā)環(huán)

典型應(yīng)用:

• 功率半導(dǎo)體器件特征分析與測(cè)試
• GaN、SiC和其它一些復(fù)合材料與器件 的特征分析
• 高達(dá)3kV的擊穿與漏流測(cè)試
• 亞毫秒瞬態(tài)特征分析

兩種測(cè)量模式:數(shù)字式或積分式 利用2657A的兩種測(cè)量模式,可以對(duì)器件的瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性進(jìn)行精確的特征分析,包括快 速改變熱效應(yīng)。每種模式是由其獨(dú)立的模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器決定的。

數(shù)字式測(cè)量模式能夠?qū)崿F(xiàn)高達(dá)1μs的采樣速度。利用其雙18位數(shù)字轉(zhuǎn)換器能夠同時(shí)捕獲 電壓和電流瞬態(tài)。在積分式測(cè)量模式下,利用其雙22位積分式模數(shù)轉(zhuǎn)換器能夠?qū)崿F(xiàn)更精確的電壓與電流測(cè)量。每種測(cè)量模式都使用兩個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器,一個(gè)用于電流,另一個(gè)用于 電壓,兩個(gè)轉(zhuǎn)換器同時(shí)工作可以實(shí)現(xiàn)精確的電源讀回,且不影響測(cè)試產(chǎn)能。

雙高速A/D轉(zhuǎn)換器能夠?qū)崿F(xiàn)快每點(diǎn)1μs的采樣速度,支持電壓和電流的全同時(shí)特征分析。

擴(kuò)展功能

通過(guò)TSP-Link®技術(shù),2657A能夠與其它2600A系列儀器連接在一起,構(gòu)成更大的具有zui高 32個(gè)節(jié)點(diǎn)的集成式系統(tǒng)。內(nèi)置的500ns觸發(fā)控制器能夠確保精確定時(shí)與緊密通道同步功 能。利用*隔離且獨(dú)立的數(shù)字源表通道可以進(jìn)行真正的每pin腳SMU測(cè)試。

高功率器件測(cè)試夾具

8010高功率器件測(cè)試夾具能夠?yàn)楦哌_(dá)3000V或100A下帶封裝的高功率器件的測(cè)試提供安全和 方便的連接。8010提供的連接支持一個(gè)高壓數(shù)字源表(2657A)、一個(gè)或兩個(gè)高電流數(shù)字源表 (2651A)、三個(gè)低功率數(shù)字源表(其它2600A系列或4200-SCS SMU)。利用這一功能,就可以 安全而準(zhǔn)確地對(duì)雙端(二極管)、三端(晶體管)甚至四端或五端器件進(jìn)行特征分析。8010具 有全互鎖功能多可支持六臺(tái)數(shù)字源表。8010集成了保護(hù)電路,能夠保護(hù)低壓數(shù)字源表免受 2657A輸出高壓造成的器件故障。8010內(nèi)含高電流(100A)和高電壓(3000V)測(cè)試測(cè)試接口。還 有可選的各種備用測(cè)試接口,包括TO-247、TO-220、軸心線,以及可以構(gòu)建自定義接口的一個(gè) 空接口模塊。除了標(biāo)準(zhǔn)的香蕉跳線,8010還具有背板指示器和熱探針端口,可簡(jiǎn)化系統(tǒng)集成。

2600A系列儀器的標(biāo)準(zhǔn)功能

2每臺(tái)2657A都具有其它2600A系列數(shù)字源 表所具有的特性和功能:
• 使用靈活,可用作臺(tái)式I-V特征 分析工具,也可以作為多通道I-V 測(cè)試系統(tǒng)的組成模塊;
• TSP Express軟件,無(wú)需編程或安 裝其它軟件即可快速而方便地執(zhí) 行常用的I-V測(cè)試。
• 用于半導(dǎo)體元件特征分析的ACS Basic Edition軟件(可選)。ACS Basic Edition現(xiàn)在提供了“Trace” 模式,可產(chǎn)生一套特征曲線。
• 吉時(shí)利的Test Script Processor (TSP)技術(shù)支持創(chuàng)建并運(yùn)行自定義 的用戶測(cè)試腳本,用于實(shí)現(xiàn)高速自 動(dòng)化測(cè)試,以及創(chuàng)建使測(cè)試儀能夠 在沒有PC直接控制的情況下進(jìn)行 異步操作的程序序列。
• 當(dāng)系統(tǒng)中多臺(tái)2600A系列儀器 連接在一起時(shí),具有并行測(cè)試 執(zhí)行和精確定時(shí)功能。 • 兼容LXI Class C。
• 14位數(shù)字I/O線,用于直接連接探針 臺(tái)、元件機(jī)械手或其它自動(dòng)化工具。
• USB端口,用于通過(guò)USB存儲(chǔ)器保存額 外的數(shù)據(jù)和測(cè)試程序。

泰克2657A大功率系統(tǒng)數(shù)字源表

 

2657A主要技術(shù)指標(biāo)1

   測(cè)量
  量程 

編程分辨率

精度
±(% rdg + V)

  顯示分辨率積分ADC精度2
±(% rdg + V)
高速ADC精度3
±(% rdg + V)
200 V5 mV0.03% + 50 mV100 μV0.025% + 50 mV

0.05% + 100 mV

500 V10 mV0.03% + 125 mV100 μV0.025% + 100 mV

0.05% + 200 mV

1500 V40 mV0.03% + 375 mV1 mV0.025% + 300 mV

0.05% + 600 mV

3000 V80 mV0.03% + 750 mV1 mV0.025% + 600 mV

0.05% + 1.2 V

電流精度指標(biāo)4

   測(cè)量
 

量程

 

編程分辨率

精度
±(% rdg + A)

  顯示分辨率積分ADC精度2
±(% rdg + A)
高速ADC精度 3
±(% rdg + A)
1 nA30 fA0.1% + 2E–12 + VoE–151 fA0.1% + 6E–13 + VoE–15

0.2% + 6E–13 + VoE–15

10 nA300 fA0.1% + 5E–12 + VoE–1510 fA0.1% + 5E–12 + VoE–15

0.2% + 5E–12 + VoE–15

100 nA3 pA0.1% + 6E–11 + VoE–13100 fA0.1% + 6E–11 + VoE–13

0.2%+ 6E–11 + VoE–13

1 μA

30 pA0.03% + 700 pA1 pA0.025% + 400 pA

0.08% + 800 nA

10 μA300 pA0.03% +    5 nA10 pA0.025% + 1.5 nA

0.08% +  3 nA

100 μA

3 nA0.03% +   60 nA100 pA0.02 % +   25 nA

0.05% + 50 nA

1 mA30 nA0.03% + 300 nA1 nA0.02 % + 200 nA

0.05%+ 400 nA

2 mA60 nA0.03% + 1.2 μA1 nA0.02 % + 500 nA

0.05% + 1 μA

20 mA

600 nA

0.03% +   12 μA10 nA0.02 % +    5 μA

0.05%+ 10 μA

120 mA3 μA0.03% +   36 μA100 nA0.02 % +   24 μA

0.05%+ 50 μA

1.對(duì)于0°到18°C以及28°到50°C的溫度,精度下降 ±(0.15 × 精度指標(biāo)) °C。

2. 對(duì)于NPLC設(shè)置<1因增加了誤差項(xiàng)而降低了精度指標(biāo)。對(duì)于阻性負(fù)載使用下表適當(dāng)增加量程項(xiàng)的百分比。

NPLC
設(shè)置

200V和500V
量程

1500V和3000V
量程

100nA
量程

1μA到120mA
量程

0.10.01%0.01%

0.01%

0.01%

0.010.08%0.07%0.1 %

0.05%

0.0010.8 %0.6 %

1  %

0.5 %

3.18位ADC。間隔1μs的1000個(gè)樣本均值。

4.對(duì)于0°到18°C以及28°到50°C的溫度,精度下降 ±(0.35 × 精度指標(biāo)) °C

其它特性

典型電壓源噪聲:量程的0.005%。
典型電流源噪聲:量程的0.08%。
典型電壓源設(shè)置:<1ms到200V,<7ms到3000V。
典型電流源設(shè)置:<5ms到120MA,<200ms到1µA。
相關(guān)指標(biāo)如有改變恕不另行通知。

觸發(fā)與同步指標(biāo)

觸發(fā):TRIGGER IN到TRIGGER OUT:0.5µs,典型值。
同步:?jiǎn)喂?jié)點(diǎn)或多節(jié)點(diǎn)同步源變化:<0.5μs,典型值。

編程

TEST SCRIPT BUILDER: 用于編輯、運(yùn)行和管理TSP腳本的集成式開發(fā)環(huán)境。
TSP EXPRESS (內(nèi)嵌的):無(wú)需編程或安裝其它軟件即可使用戶快速而方便地執(zhí)行常見I-V測(cè)試的工具。
軟件接口:TSP EXPRESS(內(nèi)嵌的)、DIRECT GPIB/VISA、支持VB的讀/寫、VC/C++、 VC#、LABVIEW、TESTPOINT、LABWINDOWS/CVI等。

系統(tǒng)擴(kuò)展

支持TSP功能的儀器通過(guò)TSP-Link擴(kuò)展接口可以相互觸發(fā)和通信。如下圖所示:

2657A能夠提供或吸收高達(dá)3000V@20mA或1500V@120mA的電源

一般性指標(biāo)

USB:USB 2.1主控制器,支持外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
接觸檢查:± 50Ω
PC接口:IEEE-488.1和.2;LXI CLASS C以太網(wǎng);RS-232。
數(shù)字I/O接口:輸入/輸出腳:14個(gè)漏極開路I/O位。大5.25V。
電源:100V到250V交流,50HZ–60HZ(自動(dòng)檢測(cè)),大功率550VA。
冷卻:強(qiáng)迫風(fēng)冷。側(cè)面和頂部吸氣,后部排氣。
EMC:符合歐盟EMC指令。
安全性:ETL列出(待確認(rèn))。符合歐盟低壓指令。
質(zhì)保期:1年。
尺寸:高89mm × 寬435mm × 深549mm(3.5in × 17.1in × 21.6in)。測(cè)試臺(tái)配置(帶手柄和腿):高104mm × 寬483mm × 深620mm(4.1in × 19in × 24.4in)。
重量:9.98KG(22lbs)。
使用環(huán)境:僅適合室內(nèi)使用。
校準(zhǔn)周期:一年。

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